キーサイト・テクノロジー株式会社

本イベントでは、1社様限定のオンライン会議を通じて半導体測定のためのソリューション紹介と製品デモをご覧いただけます。

材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメータアナライザですが、デバイスの高速化や微細化に伴い、従来のIV評価だけでなくCV評価、高速評価、信頼性評価等、様々な評価が求められるケースが増えてきました。また設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。

本イベントでは、半導体評価の経験を積んだキーサイトのエンジニアが、オンライン会議を通じて半導体測定のトレンドとテクニックをご紹介されます。

測定のお悩み相談や、設備更新の検討材料としてご活用ください。

ぜひこの機会にお申込みください。

【開催概要】

●日程： 2026年11月9日（月）～11月13日（金）

●時間：1日につき、3スロット 

全15スロット

・10:00-12:00

・13:00-15:00

・15:30-17:30

●会場： リモート会議にて開催

　　　　 1社様限定の会議形式で行います

●参加費：無料（事前登録制）

●詳細、お申し込みはこちら

●製品情報

https://www.kokka-e.co.jp/pdf/AAA_20261015_keysight_onraindemo_sss.pdf 

詳しくはこちらをご覧ください。