小角光散乱法を用いて、高分子やフィルムの構造をIn-situ、リアルタイムに解析できる装置です。X線や中性子線を用いた装置と比べて、より大きな構造(μmオーダー）の評価が可能です。
偏光板を用いたHｖ散乱測定からは光学異方性の評価や結晶性フィルムの球晶径の解析、Vv散乱測定からはポリマーブレンドの相関長の解析が行えます。

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