半導体の絶縁耐電圧試験に用いるJISC2110に準拠した試験内容（昇圧試験、段階昇圧試験）を、当社「7700シリーズ」と組み合わせることで、PCから自動的に実施することが可能です。絶縁破壊までの時間と時間単位の印加電圧ならびに破壊電圧をCSV形式で保存することができます。今後研究開発が進むSiCパワーモジュールなど最新の半導体研究時の効率化・自動化にお役に立てるソフトウェアです。

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